不縮缸的產品 - UVM晶片驗證技術業界實例

出版社： 深智數位股份有限公司
作者： 馬驍
譯者： 0
規格： 17x23x2.78
裝訂： 平裝
頁數： 568
出版日： 07/23/2025
ISBN 13 : 9786267757093
內容簡介： https://youtu.be/cqW5rFcacQA

★可重用驗證環境 - 建立靈活且高效的UVM架構。
☆DUT連接方法 - 高效連接待測設計與測試平臺。
★快速配置傳遞 - 簡化測試平臺中的配置管理。
☆Reactive Slave驗證 - 提升驗證的靈活性與可靠性。
★激勵控制技術 - 提供多種激勵應用方法。
☆記分板實現 - 快速建立有效的測試評估機制。
★訊號監測控制 - 監測與控制RTL和DUT內部訊號。
☆驗證整合優化 - 改進驗證平臺與設計的連接。
★錯誤注入測試 - 提升測試完整性與穩定性。
☆事務級數據追蹤 - 高效偵錯與Layered Protocol驗證。
★暫存器建模技術 - 涵蓋動態映射、突發存取等方法。
☆驗證加速技術 - 利用DPI與硬體模擬提升效能。

本書介紹UVM驗證環境的架構與應用，第1章說明可重用環境的設計概念，第2至4章探討DUT與測試平臺的連接方式，第5章介紹配置物件的快速配置與傳遞，第6章說明Reactive Slave驗證方法，第7至8章講解激勵控制機制，第9至10章探討記分板的快速實作，第11至12章介紹RTL與DUT內部訊號的監測與控制，第13章說明設計參數傳遞方法，第14章探討驗證平臺與設計整合，第15至16章解析事務級數據追蹤與Layered Protocol驗證，第17章介紹VIP的存取者模式，第18章講解UVM目標phase的額外等待機制，第19章探討模擬結束機制，第20章說明記分板與斷言檢查的結合，第21至22章介紹錯誤注入與ECC測試，第23章探討列舉型態變數應用，第24至25章說明UVM的SVA封裝與控制，第26至28章介紹晶片重置測試，第29至30章講解參數化類別壓縮與中斷處理，第31至32章探討提升覆蓋率與可重用方法，第33至36章介紹隨機約束技術，第37至40章解析暫存器建模，第41至44章說明UVM儲存建模與覆蓋率統計，第45至47章探討C語言存取、建模可讀性與後門存取，第48章介紹程式倉庫管理，第49至50章說明DPI與硬體模擬加速技術。

目標讀者
►具備一定基礎的相關專業的在校大學生。
►相關領域的技術工程人員。

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作者簡介：